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X射線熒光分析儀

  • 在線式X射線熒光分析儀
  • 在線式X射線熒光分析儀
在線式X射線熒光分析儀在線式X射線熒光分析儀

在線式X射線熒光分析儀

  • 薄膜膜厚分析
  • 薄膜元素分析
  • 薄膜成分分析
  • 產(chǎn)品描述:型號:SMX-ILH
  • 在線訂購


SMX-ILH專利的熱屏蔽技術(shù)可使熱基板在高達(dá)300?C下實時進(jìn)行X射線熒光數(shù)據(jù)采集,減少面板的停留時間,提高加工能力。由于采用一個專門設(shè)計的Z軸高度調(diào)節(jié)功能裝置,該系統(tǒng)能夠適應(yīng)大型面板中經(jīng)常出現(xiàn)的平面性差異(弓起和卷曲)等問題,從而進(jìn)一步提高了測量精度和結(jié)果,尤其是在較高的溫度下。


  • 成分和層厚分析
  • 材料選擇,薄層配方
  • 在線及離線過程控制
  • 良率管理


應(yīng)用領(lǐng)域:


  • 光伏制造過程
  • 微電子制造
  • 防腐蝕涂層
  • 熱障涂層
  • 能源(CIGS, CIS,電池)